根据测量原理，涂层测厚仪一般有以下五种类型：
1.磁性厚度测量方法：适用于测量导电材料上非磁性导电层的厚度。 导磁材料通常是：钢，铁，银，镍。 该方法测量精度高，FT220涂层测厚仪
2.涡流厚度测量方法：适用于导电金属上非导电层的厚度测量。 此方法比磁性厚度测量方法（NT230涂层测厚仪）更精确。
3.超声波测厚法：目前国内尚无这种测厚层厚度的方法。国外一些厂家也有这种仪器，适用于多层测厚层的厚度或厚度的测量。 无法测量以上两种方法的场合。 但是它通常很昂贵并且测量精度不高。
4.电解厚度测量方法：该方法不同于上述三种方法。 这不是非破坏性测试，需要破坏涂层。 总体精度不高。 测量比其他类型更麻烦。
5.辐射厚度测量方法：这种仪器非常昂贵（通常在10万元人民币以上），适合某些特殊场合。
当前，最常用的方法是前两种方法。
常规涂层测厚仪的原理
在材料的表面保护和装饰上形成的覆盖层，例如涂层，镀层，涂层，粘附层，化学生成的薄膜等，在相关的国家和国际标准中称为涂层。 漆膜测厚仪http://www.qimocehouyi.com
涂层厚度的测量已经成为加工行业和表面工程质量检查的重要组成部分，并且是产品达到卓越质量标准的必不可少的手段。 为了使产品国际化，我国的出口商品和与国外有关的项目对涂层的厚度有明确的要求。
涂层厚度的主要测量方法是：楔形切割法，光学切割法，电解法，厚度差测量法，称量法，X射线荧光法，β射线背散射法，电容法，磁法和涡流法 法律等。这些方法的前五种是破坏性测试。 测量方法麻烦且缓慢，并且最适合于抽样检查。
X射线和β射线方法是非接触式和非破坏性的测量方法，但是该设备复杂且昂贵，并且测量范围小。 由于存在放射源，用户必须遵守辐射防护规定。 X射线法可以测量非常薄的涂层，双层涂层，合金涂层。 β射线法适用于原子量大于3的涂层的测量。电容法仅在测量薄导体绝缘涂层的厚度时使用。
随着技术的进步，特别是近年来引入微计算机技术之后，采用磁法和涡流法的测厚仪已朝着小型化，智能化，多功能化，高精度和实用性的方向迈出了一步。 测量的分辨率达到了0.1微米，精度可以达到1％，这已经大大提高了。 它具有广泛的应用范围，范围广，操作简便，价格低廉。 它是工业和科学研究中使用最广泛的厚度测量仪器。
无损检测方法既不损伤涂层也不破坏基材，检测速度快，可以使大量的检测工作变得经济。
